簡要描述:CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺(tái)CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動(dòng) ;可升級(jí)做射頻,大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,電子,汽車,電氣 |
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CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺(tái)特點(diǎn) / 應(yīng)用
滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等.
大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試
同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu),線性移動(dòng)
兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動(dòng)
可升級(jí)做射頻,大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺(tái) 臺(tái)體規(guī)格:
光學(xué)系統(tǒng):
探針座
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